Çalışma Alanları
İFALAB
Araştırma & Teknoloji

Çalışma
Alanlarımız

 

İFALAB bünyesinde yürütülen araştırmalar; ince film teknolojilerinden optoelektronik sistemlere, özel donanım mühendisliğinden yapay zeka destekli kalite kontrole uzanan beş ana eksen üzerinde şekillenmektedir.

çalışma Alanları
 
 
1
İnce Film Teknolojileri ve Aygıt Geliştirme
 

Çeşitli yarı iletken malzemeler kullanılarak ince film transistörlerin TFT, diyotların ve mikroelektronik aygıt mimarilerinin tasarımı, fabrikasyonu ve elektriksel karakterizasyonu.

 

Vakum teknolojileri ve hassas litografi süreçleri ile homojen ince film kaplama proseslerinin parametrik optimizasyonu ve arayüzey mühendisliği.

2
Optoelektronik Aygıtlar ve Sensör Sistemleri
 

Geniş alanlı ve yüksek çözünürlüklü görüntüleme sistemleri için aktif matris dizilimlerinin active-matrix arrays ve dedektör sistemlerinin prototiplenmesi.

 

Endüstriyel ve medikal uygulamalara yönelik hassas fotonik ve optoelektronik sensör teknolojilerinin geliştirilmesi.

3
Laboratuvar Teknolojileri ve Özel Donanım Mühendisliği
 

Mikro-fabrikasyon süreçlerinde kritik rol oynayan altyapı cihazlarının (örn. Wafer Temizleme Sistemleri) kavramsal tasarımı, elektromekanik entegrasyonu ve üretimi.

 

Araştırma ve karakterizasyon süreçlerine özgü, dışa bağımlılığı azaltan yüksek hassasiyetli test/proses aparatlarının laboratuvar bünyesinde geliştirilmesi.

4
Görüntü İşleme ve Defekt Analiz Sistemleri
 

Üretilen TFT dizinlerinin/arkapanelin, ince film yüzeylerin ve yarı iletken arayüzeylerin yapısal bütünlüğünü denetlemek amacıyla görüntü işleme algoritmalarının geliştirilmesi.

 

Üretim proseslerindeki kirlilik contamination, mikro-çizik veya litografik hataların otonom tespitine yönelik computer vision destekli kalite kontrol mekanizmalarının araştırması.

5
Yüzey, Arayüzey ve Malzeme Karakterizasyonu
 

Geliştirilen ince filmlerin morfolojik, yapısal ve kimyasal özelliklerinin spektroskopik ve mikroskobik düzeyde analizi.

 

Yüzey pürüzlülüğü, film homojenliği ve elektriksel stres/histerezis analizleri ile nihai aygıt performans korelasyonlarının kurumsal standartlarda incelenmesi.