Üretilen TFT dizinlerinin/arkapanelin, ince film yüzeylerin ve yarı iletken arayüzeylerin yapısal bütünlüğünü denetlemek amacıyla görüntü işleme algoritmalarının geliştirilmesi.
Üretim proseslerindeki kirlilik contamination, mikro-çizik veya litografik hataların otonom tespitine yönelik computer vision destekli kalite kontrol mekanizmalarının araştırması.